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Veranstaltung

18. November 2020 In Kalender eintragen

Cluster Leistungselektronik: Cluster-Schulung: Messen, Prüfen und Charakterisieren von Leistungshalbleiter-Bauelementen - Grundlagen

Die performance- und kostenoptimierte Auslegung leistungs-elektronischer Schaltungen verlangt zunehmend ein tieferes Verständnis der Eigenschaften und physikalischen Parameter von Leistungshalbleiter-Bauelementen.
Im Rahmen der Veranstaltung sollen wesentliche, relevante Messverfahren dargestellt werden, die zur Prüfung und Charak-terisierung von Leistungshalbleiter-Bauelementen eingesetzt werden können. Während der Vorträge werden begleitend die jeweils relevanten Versuche vorgeführt und erläutert.

Zielgruppe:

Die Schulung wendet sich insbesondere an:

  • Entwickler von leistungselektronischen Baugruppen, die Leistungshalbleiter-Bauelemente einsetzen, spezifizieren und auswählen
  • Mitarbeiter im Bereich Qualitätssicherung und Qualitätsmanagement
  • Hersteller von Leistungshalbleiter-Bauelementen
  • Hochschulen und Forschungseinrichtungen

Weitere Informationen:

Programm und Anmeldung:

18. November 2020, Nürnberg