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Veranstaltung

01. Dezember 2020 - 02. Dezember 2020 In Kalender eintragen

Cluster Leistungselektronik: Cluster Schulung: Zuverlässigkeit und Lebensdauer elektronischer Systeme

In dieser Schulung erfahren Sie die Grundlagen der modernen Lebensdauer- und Zuverlässigkeitsanalyse für elektronische Systeme – sowohl für den Systementwurf als auch für die Überprüfung durch Simulation und Test. Während der Schulung führen Sie mit den anderen Teilnehmern gemeinsam Tests durch und werten diese aus. So lernen Sie die statistischen Verfahren und gängige Teststrategien kennen und können diese aktiv erleben, hinterfragen und anwenden. Die Vorgehensweise basiert auf dem beabsichtigten Beanspruchungsprofil, der Testplanung, Fehlerphysik sowie dessen statistischer Beschreibung und Modellierung.

Für die Schulung benötigen die Teilnehmer keinen Computer. Die Auswertungen der Experimentdaten erfolgt live durch die Referenten mit der Software Minitab®. Wichtige statistische Grundlagen und Ergebnisse werden so anschaulich und leichter zu interpretieren.

Selbstverständlich werden die Mess- und Analyseergebnisse im Anschuss digital zur Verfügung gestellt.

Weitere Informationen: 

Programm und Anmeldung:

1. - 2. Dezember 2020, Nürnberg